圧電セラミックスの印加応力による誘電率変化の動的測定と電歪定数の独立数に関する検討
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概要
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本報告では,PZT圧電セラミックスのd形式に於ける6つの電歪定数 ^2d_inkl>を新たに開発した印加応力による誘電率変化の動的測定法を用いて決定している.この動的測定法は強誘電材料の永久分極を固定したまま(エージング現象を起こさない状態のまま)で誘電率変化を測定できる特長がある.次に同様にd形式に於ける全ての3次の誘電率ε^T_ink>をこれも我々の開発した動的測定法を用いて決定している.これら2種類の非線形定数から電束密度と応力を独立変数に採るg形式での電歪定数 ^2g_inkl>を求め,圧電セラミックスの電歪定数の独立数は分極後も∞mmの6ではなく等方体と同じ2で良い事を実証する.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1994-06-22
著者
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