赤外線画像のヒストグラムによるICボードの故障検出
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概要
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ボード全体を赤外線カメラで撮影し,この赤外線画像のヒストグラムの標準偏差を用いて故障検出を行う手法を提案する.以前我々が提案した方法は,n個のICが搭載されているボードでは,故障検出のための測定回数はnなのに対して,本手法では検出精度を落とさずに測定回数を2けた程度削減することができる.また本手法は,LSIが高実装密度のボードでは,故障ICの発熱がボードや故障ICに隣接したICに影響することにより,正常時からのボード全体の標準偏差の変化が加速され,容易に故障検出可能となる特徴をもつ.更に,故障検出のための測定回数と検出精度を考慮した検出効率を定義して他の手法と比較すると,ヒストグラム法が1番優れている,すなわち少ない労力で精度良く故障検出可能であるとの結論を得た.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1999-09-25
著者
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