液晶高分子プラスチックフェルールのPC接続条件の検討
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概要
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光ファイバ接続用液晶高分子プラスチックフェルールの端面形状パラメータについて, 理論面から検討した.まず, 接触弾性理論をもとにSC形及びMU形プラスチックフェルール端面の曲率半径Rとファイバ引込量の許容上限値U_<max>との関係を調べた.その結果, U_<max>はプラスチックフェルール同士よりも, ジルコニアフェルールと接続した場合の方が小さくなることがわかった.次に, プラスチックフェルールがジルコニアフェルールと接続した場合に, ファイバ引込量の許容上限値U_<max>と頂点ずれ△の関係を調べ, MU形フェルールとSC形フェルールで, 常にファイバのPC接続が起こるに必要な△とU_<max>の許容範囲を明らかにした.更に, プラスチックフェルールの塑性変形と熱応力の影響を考慮して, 許容される曲率半径の下限値を見積もった.以上の結果をもとに, プラスチックフェルール端面の形状パラメータ(曲率半径, ファイバ引込量, 頂点ずれ量)の許容範囲をまとめた結果, いずれのパラメータでもジルコニアフェルールよりプラスチックフェルールの方が許容範囲が広いことがわかった.
- 2001-02-01
著者
-
首藤 義人
日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所
-
住田 真
日本電信電話株式会社 NTTフォトニクス研究所
-
東野 俊一
日本電信電話株式会社nttフォトニクス研究所
-
柳 秀一
日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所
-
住田 真
Ntt フォトニクス研究所
-
佐藤 弘次
NTT フォトニクス研究所
-
柳 秀一
NTT フォトニクス研究所
-
首藤 義人
NTT フォトニクス研究所
-
東野 俊一
NTT フォトニクス研究所
-
大野 正善
NTT光エレクトロニクス研究所
-
大野 正善
日本電信電話株式会社nttフォトニクス研究所
-
佐藤 弘次
NTT エレクトロニクス
-
大野 正善
NTT フォトニクス研究所
-
大野 正善
Ntt
-
柳 秀一
Ntt フォトニクス研
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