酸素ガスジェットを用いた固体表面のX線光電子分光測定(<特集>表面・界面・薄膜と分析化学)
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概要
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ESCA測定中の試料表面にO_2-Jetを吹き付けながら, スペクトルの変化を動的かつその場で測定した.210℃に加熱されているRe, Cs添加Agディスク表面のRe^0(40.9eV)とCs^+(725.2eV)はO_2-Jet作動中にRe^<6+>(45.5eV), Cs^<δ+>(724.6eV;δ<1)に経時的にシフトした.同時にOlsスペクトルのピークは531.5eVから530.5と529.9eVの双頭ピークに変化した.表面損傷で生成したTiO_2表面のTi^<3+>, Ti^<2+>はバルク酸素で緩慢に酸化されたが, O_2-Jet作動中には急速に酸化された.又, Y-Ba-Cu-O超伝導体表面の表面損傷時に生成したCu^+は超高真空下及びO_2-Jet作動中の加熱時に酸化された.しかし, 両者の酸化挙動に差異のないことから, Cu^+は拡散移動したバルク(格子)酸素で酸化されていることが明らかとなった.
- 1991-11-05
著者
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