原子間力顕微鏡によるポリオレフィンフィルム表面粗さの測定
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概要
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コンタクト型原子間力顕微鏡(AFM)を用いてポリオレフィンフィルムの表面粗さを測定した.試料は直鎖低密度ポリエチレンと低密度ポリエチレンのブレンド, 高密度ポリエチレンと低密度ポリエチレンのブレンド, キャストポリプロピレンである.表面粗さはAFM像を構成する断面プロフィルから, 10点平均粗さR_zとして求めた.高分子フィルムの透明性を表す尺度の一つのヘイズ(曇り度)と比較したところ, 表面粗さは外部ヘイズと相関があり, 表面粗さが増すと外部ヘイズが増加すること, 又この相関はポリオレフィンの樹脂の種類によらずに成り立つことが分かった.
- 社団法人日本分析化学会の論文
- 1996-04-05
著者
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鷹 敏雄
昭和電工(株)川崎樹脂研究所
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菊田 芳和
昭和電工(株)
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宮坂 佳彦
昭和電工(株)総合研究所分析物性センター
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足助 哲也
昭和電工(株)川崎樹脂研究所
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山梨 展明
昭和電工(株)川崎樹脂研究所
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菊田 芳和
昭和電工(株)総合研究所分析物性センター
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