非同期回路のスキャン設計回路への自動変換
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概要
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LSIの集積度の向上にともなって検査の難しさは増加している.一般の順序回路は,そのままでは自動的な検査入力生成を行うことが難しい.そこでスキャン設計を行い,検査入力生成の問題を組合せ回路のレベルに落として処理することが行われている.しかし,非同期回路を含む一般の回路にスキャン設計を適用することは難しい.今回,非同期回路をスキャン設計回路に自動変換する手法について検討したので報告する.
- 一般社団法人情報処理学会の論文
- 1988-09-12
著者
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