ハードウェア品質向上に関するランダムシーケンス試験の効果について

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概要

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近年、計算機の高速化・高機能化に伴うハードウェア論理設計の複雑化や市場競争の激化に伴う開発期間の短縮化などを背景として、ハードウェア開発における論理設計段階での機能検証および製造段階での論理不良の早期摘出が要求されている。その一方法として装置の論理機能に着目して、その機能の正常性の判定試験を行う保守試験プログラム(TMP)がある。従来、正常/異常の判定には個々の機能についてあらかじめ作成した正解値と比較する方法が一般的であった。しかし、考えられる全ての命令/データの組合せで試験することはプログラムの作成時間、作成工数の点から困難であった。本稿では、試験精度向上を目的として命令シーケンスや各種データをランダムに生成し、さまざまな組合せにより試験を行うランダムシーケンス試験方式について概要を示し、その効果の評価結果について述べる。
一般社団法人情報処理学会の論文
1986-10-01

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