信号確率を用いたテスタビリティ評価法の検討
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概要
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LSIの大規模化、高機能化にともない、LSIの試験が困難になってきている。このため、試験を行う前に試験の難易度を評価するテスタビリティ評価法か注目されている。しかし、従来からの評価法は、回路内の論理値を全て独立に制御できることを仮定しており、回路の再収れんを考慮していない。このため、得られたメジャと試験の難易度との対応が十分とれていない。そこで本検討では、論理値の従属性を考慮した信号確率に注目し、これをメジャと定義し検討を加えた。検討を行うにあたって、組み合わせ回路を対象とし、ざらに電子ビームテスタ(EBテスタ)を前提とした新しい環境を念頭においた。EBテスタは、SEM像の電位コントラストを利用することにより、LSI最上層の配線の電位が測定できるテスタである。従って、従来型テスタと異なり可観測性は大幅に向上している。
- 一般社団法人情報処理学会の論文
- 1986-10-01