3段ゲート構成によるM-out-of-N符号用自己検査性検査回路

概要

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論理回路の大規模化,複雑化に伴い,故障検出への対処はますます重要となっている.これに対処する一方策として自己検査論理の提案がなされ,各種符号に対して自己検査性検査回路(TSCC)の構成法が研究されている.本論文では,M-out-of-N 符号(2&≦M6&≦5,2M<N≠5)を対象とし,TSCCの組織的な3段ゲート構成法を提案する・本構成法では,符号を組織的に直和2分割して2つの符号語集合を作成する.この一方の符号語集合に対し,AND-OR,OR-AND構成を適用して2段ゲート構成とする.この際,TSCCの構成条件を満たさ趣い符号語が生じる・これらの符号語に対して,ORゲートを分割して他の符号語と共用し,構成条件を満たすようにする本論文ではこのORゲートの分割および共用も組織的に行う.このようにして構成されたTSCCは,AND-OR,OR-OR-AND構成の3段ゲート構成となる.また,本構成法による所要ゲート数を考察し,従来の組織的な3段ゲート構成法よりも少ないことを示す.以上より,本論文の結果は,上記範囲のM/N 符号に対し,ゲート数が従来よりも少ない3段ゲートTSCCの組織的構成法を与えている.
一般社団法人情報処理学会の論文
1990-01-15