アルミニウムイオン及び塩化物イオンを含むホウ酸ガラスのX線照射効果
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概要
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2元系アルカリホウ酸塩ガラス, Nabalガラス並びにNaClを含むホウ酸塩ガラスにX線を照射し吸収スペクトルを測定した.吸収スペクトルをガウス型ピークに分離し, 各吸収のピークとガラス構造との対応を調べた.特に可視部に吸収をもつ中心は非架橋酸素に絡むもので塩基度に依存して出現した.アルミナの2元系ホウ酸塩ガラスへの添加はアルミニウムイオンが非架橋酸素を消費して系内に溶けこむため, 結果的にはこの非架橋酸素に絡む吸収強度を低下させる.2元系ホウ酸塩に溶けた塩化物イオンはX線照射によってCl^-_2中心を形成する.これによる吸収スペクトルの強度はガラス構造に大きく依存し, 酸性領域では強く, 塩基性領域では急激に低下した.このことより塩化物イオンは塩基性領域では非架橋酸素と無秩序に混合しているが, 酸性側つまり4配位ホウ素のみが形成される領域ではNaCl相に近いクラスター状のものとして網目構造に溶けこんでいることが推定された.
- 1984-07-01
著者
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前川 尚
北海道大学理学部化学科
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横川 敏雄
北海道大学理学部化学科
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前川 尚
北海道大学理学部
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内田 久
北海道大学理学部化学科:(現)日本電気(株)
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岩野 恵理子
北海道大学理学部化学科
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横川 敏雄
北大 理
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横川 敏雄
北海道大学
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