2p-R-13 水素分子イオン-固体薄膜衝突における内殻空孔生成II : 理論
スポンサーリンク
概要
著者
関連論文
-
30a-ZG-8 中速重イオン衝撃による炭素膜の発光
-
3p-X-7 高速H^+、He^+イオンと炭素薄膜との衝突による個体からの発光スペクトル測定
-
3p-TB-1 5-25keV He^+-Ne衝突からの放出2次電子スペクトルの測定
-
3a-TB-6 同時計数法による電子ー原子衝突の多重微分断面積の測定 III
-
4p-P-4 N^+,NH^+衝突によりfoilから放出される電子のエネルギー角度分布 I
-
4p-P-3 イオン-薄膜相互作用におけるRydbergイオン生成
-
4a-KE-7 電子衝撃によるHeの発光角分布測定
-
4a-KE-6 H_2への電子衝撃によるBalmer-α発光の角分布測定
-
2p-RL-11 CONVOY電子の生成機構について
-
1a-BC-7 高速水素分子イオンと個体との相互作用-III : 固体からの連続発光分布
-
27p-J-13 電子衝撃による原子・分子の発光の角分布測定
-
27p-J-5 同時計数法による電子-原子衝突の多重微分断面積の測定 II
-
1a-SA-11 高速イオン : 気体衝突による前方放出2次電子のエネルギースペクトル
-
1a-SA-10 5〜30keV H^+-希ガス衝突における2次電子生成機構
-
1a-SA-9 3-27keV He^+-He衝突からの放出二次電子スペクトル II
-
1a-SA-8 3-27keV He^+-He衝突からの放出二次電子スペクトル I
-
2p-SH-3 H^+, H_2^+, H_3^+によりfoilから放出される電子のエネルギー・角度分布 V
-
2p-SH-1 高速水素分子イオン炭素薄膜との相互作用 : 励起準位に対する分子効果
-
2p-D-9 高速分子イオンによる薄膜からのAuger電子放出
-
2a-M-9 電子衝撃による原子・分子の発光の角分布
-
2a-M-8 同時計数法による電子-原子衝突の多重微分断面積の測定I
-
2p-R-11 高速イオン(H^+, H_2^+, H_3^+, He^+)-気体衝突におけるZ^2-scaling及びloss electronの測定
-
30a-B-8 気体のMeVイオン衝撃による2次元電子生成微分断面積 IV
-
27p-C-13 気体の高速イオン衝撃による二次電子生成微分断面積 III
-
1a-N-5 中間エネルギーHe^+-希ガス衝突における放出二次電子の角度分布
-
2p-R-13 水素分子イオン-固体薄膜衝突における内殻空孔生成II : 理論
-
2p-R-12 水素分子イオン-固体薄膜衝突における内殻空孔生成I : 実験
-
5a-NW-5 10〜24keVH^+-He衝突における放出2次電子スペクトル
-
2a-P-7 ビーム-フォイル分光法による高速水素分子イオンと固体薄膜との相互作用
-
30a-B-9 5-20keVイオン・原子分子衝突における放出二次電子スペクトルVI : H^+_2, D^+_2+H_2
-
31p-P-8 H^+, H^+_2, H^+_3衝突により Foil から放出される電子のエネルギー・角度分布 IV
-
1a-S-7 5-20keV イオン・原子分子衝突における放出2次電子スペクトルV. H^+,H_2^+,H_3^+,He^+-H_2
-
27a-C-12 電子衝撃によるHF超励起状態の解離過程
-
27a-C-5 窒素分子の電子衝撃による散乱電子および放出二次電子の二重微分断面積測定
-
29a-F-3 H^+, H^+_2, H^+_3衝突によりfollから放出される電子のエネルギー角度分布 III
-
29a-F-2 H^+, H^+_2, H^+_3衝突によりfoilから放出される電子のエネルギー角度分布 II
-
29a-F-1 高速イオン : 薄膜衝突実験装置の試作
-
5a-S-7 H^+,H_2^+,H_3^+衝突によりfoilから放出される電子のエネルギー・角度分布
-
2p GS-12 H_2Sの電子衝撃によるBalmer-α発光Dopplerプロフィル
-
4p-W-10 N_2のK殻励起による電子のエネルギー損失スペクトル
-
1p-LA-3 電子一気体分子衝突による放出2次電子の角度・エネルギー分布
-
1p-LA-1 気体の高速イオン衝撃による2次電子生成微分断面積。II.
-
31a-AB-6 高速イオン衝撃により固体表面から放出される2次電子エネルギースペクトル II
-
11p-M-12 気体の高速イオン衝撃による2次電子生成微分断面積I
-
11a-M-2 ヘリウムの電子衝撃による2次電子生成微分断面積測定
-
2p-R-10 高速H^0, He^0の炭素薄膜入射後での中性成分の測定
-
10p-T-10 高速イオン衝撃により固体表面から放出される2次電子エネルギースペクトルI
-
4a-S-3 PIESによるHe(2^1S)、He(2^3S)励起関数の測定
-
コンボイ電子-イオンと等速度で薄膜から放出される電子-研究の現状
-
27p-G-10 C^(2.5-5MeV)+He衝突における自動電離電子の角度分布
-
27p-G-9 0.25-1MeV/u U^He衝突における2電子捕獲
-
27p-G-8 イオン-薄膜相互作用で生成されたRydberg状態の角運動量分布
-
30a-S-6 高速イオンの通過により固体内に生じた電子密度のゆらぎの検出
-
30a-S-5 高速重イオンによるコンボイ電子生成機構
-
7p-T-6 LiFからの熱刺激エキソ電子エネルギー分布
-
14a-D-3 LiF蒸着膜のエキソ電子放出
-
第8回原子衝突国際会議
-
第7回原子衝突国際会議
-
22p-D-8 エキゾ電子のエネルギー分布
-
14p-D-2 電子の電離衝突微分断面積
-
13a-R-4 電子衝撃による分子の電離. I. 散乱・放出電子のエネルギー・角度二重微分断面積の測定(CH_4, CO, H_2O)
-
5a-A-3 Helium原子による電子の弾性散乱微分断面積の測定
-
7a-X-4 Energy and Angular Distribution of Electrons Scattered or Ejected from Rare Gas Atoms by Electron Impact.
-
1a-G-4 Energy and Angular Distribution of Electrons Ejected from RareGas Atoms by Electron Impact.II.
-
9a-E-8 Energy and Angular Distribution of Electrons Ejected from Rare gas Atoms by Electron Impact
-
2p-TD-1 電子衝撃によるNeのAutoionization
-
2a-TD-9 電子衝撃によるHeのAutoionization III
-
14p-P-12 低エネルギ電子によるアントラセンの励起
-
15a-E-8 電子衝撃によるHeのAutoionization(II)
-
15a-E-7 電子衝撃によるHeのAutoionization.I
-
1a-G-3 クロスビーム法によるベンゼンのエネルギー損失スペクトル
-
12p-R-14 ペニング電離の電子分光法による研究 I. He^+Ar, Xe, N_2
-
3a-LF-2 簡単な分子の電子衝撃によるBalmer-α発光Dopplerプロフィルの同位体効果
-
11a-M-4 H_2O電子衝撃によるBalmer-α発光Dopplerプロフィルのエネルギー依存性
-
8a-R-2 H_2・D_2電子衝撃におけるバルマー発光ドップラー幅
-
6p-T-5 H_2の電子衝撃におけるH^*(n=3)の角分布と速度分布
-
11a-D-6 低エネルギー電子衝突によるHe,Arの光学的禁則遷移の角度,エネルギー依存症
-
第5回放射線研究会議 (ICRR) 報告
-
29p-I-6 軽イオン-薄膜衝突における低エネルギー二次電子放出I(放射線物理)
-
3a-D4-11 70keV/uNH1+(j=0-4)によるコンボイ電子生成(放射線物理)
もっと見る
閉じる
スポンサーリンク