電子衝撃によるN_2Oからの準安定フラグメントの角度分布

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 1996-09-13

著者

• 大谷 俊介

  電気通信大学レーザー新世代研究センター

• 大谷 俊介

  電通大レーザー

• 古橋 治

  立教大先端科計研

• 大谷 俊介

  電通大レーザーセ

• Currell Fred

  クィーンズ大ベルファスト

• Currell Frederick

  電通大レーザー研

• 古橋 治

  電通大レーザーセンター

• 大谷 俊介

  電通大レーザー研

• カレル フレッド

  電通大

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