イオン化列は仮想の世界 : 電気化学(その 1)(教科書の記述を考える 1)

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概要

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• 1996-09-20

論文 | ランダム

• 大小試験片の回転曲げにおける疲労き裂の成長特性
• シャルピ-衝撃試験における切欠き傾斜角度の影響
• 繰返し平面曲げ応力による表面き裂の進行
• シャルピー衝撃値に及ぼす切欠き角度の影響
• 疲れき裂の進行に及ぼす残留応力の影響

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