間接型ディフラクトグラフィの試み

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概要

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従来のディフラクトグラフィには実際的使用に当たっていくつかの難点が伴う場合がある。そこでこの欠点を補う目的から、ディフラクトグラフィに間接型の手法を導入することを試みた、物体の近傍に基準となるエッジをセットする代わりに、物体に人為的なマーキングを行い、物体とマークしたパターンとを二重露光により写真に記録してディフラクトグラムをつくる、このディフラクトグラムを光学的フーリエ変換処理し、得られたスペクトルパターンに基づいて、物体の変位を測定する。またディフラクトグラムのつくり方を工夫することで、物体の形状をとらえることもできる。この考え方に従い実験的検討を行い、間接型ディフラクトグラフィが目的を満たすことを確かめた。
公益社団法人精密工学会の論文
1981-05-05

著者

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