半導体レーザーを用いた高温フィラメントの熱歪変形の光学的検出法
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概要
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Laser beam from a laser diode was used to make enlarged shadow images of hot filaments emitting intense bright light at high temperature. Clear shadow images under daylight were obtained by filtering the background light from the hot filaments. We used these shadow images to detect small deformation of hot filaments caused by thermal stress and controlled its position precisely in diamond vapour growth experiments .
- 大同工業大学の論文
著者
-
中井 靖男
大同工業大学電気工学科
-
中井 靖男
大同工大
-
早川 謙二
大同工大
-
早川 謙二
大同工業大学応用電子工学科
-
西村 政信
大同工業大学電気工学科
-
西村 政信
大同大学工学部電気電子工学科
-
西村 政信
大同工業大学
-
中井 靖男
大同工業大学
-
早川 謙二
大同工業大学
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