平成20年度秋季研究大会報告 : 工場見学・交流会の試みと経営工学100年周期特別企画などで盛況

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概要

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• 2008-12-15

論文 | ランダム

• 次世代デバイス開発に不可欠なナノ分析・評価技術
• 化合物半導体デバイス評価における電子顕微鏡法の寄与
• C ドープ InGaP/GaAs HBTの信頼性
• Si(001)基板上に成長したAl結晶の構造評価
• 14p-DJ-7 Si(001)上のAl薄膜のSTM観察

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