局所電流を用いた Seppen-Katamuki チャート
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概要
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The distribution of S-K plots due to the change of work function, the radius and emission area of field emitter have been studied based on the measurement of the local emission currents. Even when the surface of the emitter is kept at the same condition, S-K plots are lined up on a straight line with a slope of an applied voltage. This tendency is attributed to the fluctuation of the measured currents due to the fluctuation of the applied voltage or an emission current itself. A parameter of various surfaces is compared by the K values of straight lines for the same S values in such case other parameters are constant. Therefore S-K chart is thought to have additional information comparing with an simple Fowler-Nordheim plot (log (I/V2)-1/V plot), with which work function changes are estimated by a slope of plot only.
- 2005-03-20
著者
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岩津 文夫
名古屋工業大学国際交流センター
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森川 浩志
名古屋工業大学 ・ 材料工学科
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西田 和史
名古屋工業大学大学院物質工学
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岩津 文夫
名古屋工業大学
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岩津 文夫
名古屋工業大学大学院物質工学
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森川 浩志
名古屋工業大学大学院物質工学
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森川 浩志
名古屋工業大学
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