Nanometer-Scale Recording on a Superhard and Conductive Carbon Film Using an Atomic Force Microscope
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概要
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- Published by the Japan Society of Applied Physics through the Institute of Pure and Applied Physicsの論文
- 2004-11-15
著者
-
土谷 茂樹
和歌山大学
-
HIRONO Shigeru
NTT Afty Engineering Corporation
-
Hirono Shigeru
Ntt Afty Corporation
-
Tanaka Ichiro
Department of Biology. Faculty of Science, Nagoya University
-
KANEKO Reizo
Department of Opto-Mechatronics, Faculty of Systems Engineering, Wakayama University
-
金子 礼三
Wakayama University Department Of Opto-mechatronics Faculty Of Systems Engineering
-
TSUCHITANI Shigeki
Department of Opto-Mechatronics, Faculty of Systems Engineering, Wakayama University
-
ISOZAKI Masaki
Department of Opto-Mechatronics, Faculty of Systems Engineering, Wakayama University
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