多値変調を用いた UWB-IR 多元接続方式の特性評価
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概要
論文 | ランダム
- Effects of Insulating Layers and Active Layer on ZnS:Tb, F Thin-Film Electroluminescent Devices
- Effects of [H_2S]/[DMZn] Molar Ratio on ZnS Films Grown by Low-Pressure Metalorganic Chemical Vapor Deposition
- High Dielectric Constant of RF-Sputtered HfO_2 Thin Films
- 偽性上唇正中裂の1例
- 上口唇正中部に発生した皮様嚢胞の1例