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Department of Electrical and Electronic Engineering, College of Engineering, Nihon University, 1 Aza-Nakagahara, Tokusada, Tamura-machi, Koriyama, Fakushima 963-8642, Japan | 論文
Behavior of Metal-Induced Negative Oxide Charges on the Surface of N-type Silicon Wafers Using Frequency-Dependent AC Surface Photovoltage Measurements
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