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理学電機 | 論文
- ダイナミック熱天秤の脱バインダ過程検討への応用 (最新の熱測定(1))
- セラミックスの評価法-4-(5)薄膜の熱伝導率・熱膨張率測定法(セラミックス基礎工学講座)
- 8p-B-14 結晶表面層の微視的原子構造の表現とX線散乱
- 31p-BF-9 二次元位置検出器を使用したX線結晶構造解析装置
- 5p-L-11 X線回折用二次元検出器
- 現場用X線応用測定器の開発とその適用性について
- 現地用X線残留応力測定装置の開発と適用性
- 広義な熱分析
- 11p-T-6 X線光学的に拡大したトポグラフのテレビによる観察
- 5a-TA-2 CTR散乱によるSi(111)表面の清浄化過程の観察
- 5p-P-4 クリスタル・トランケーション・ロッド
- 4a-B5-9 GaAs(001)表面からのCrystal Truncation Rodの観測
- 4a-B5-8 X線回折によるサンドウィッチ型GaAs/AlAs/GaAs界面での微小原子変位の評価
- X線散漫散乱法による半導体混晶中の局所構造の評価 : IV. 偏析の評価
- 29p-C-6 フーリェ解析法による (GaAs)_m (AlAs)_n 超格子の評価
- Nd-Fe-B系スプレー造粒粉中のPVAの熱分解挙動
- 放射線透過法によるサブマ-ジドア-ク溶接の溶込み深さの制御(NDT International,22-2,1989)
- X線顕微鏡の結晶学への応用 : X線・粒子線
- X線顕微鏡によるPendellosung fringesの観察 : 粒子線・X線
- 9a-K-11 投影型X線陰影顕微鏡の試作