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東工大:CREST | 論文

• 31a-L-8 超高真空透過電子顕微鏡によるSi(111)-7×7表面の観察
• 23pXA-12 TEM-STM同時観察システム開発と半導体物性の研究(23pXA 表面界面電子物性,領域9(表面・界面,結晶成長))

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