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日本電子株式会社emビジネスユニット | 論文

• TEM用二探針ピエゾ駆動ホルダの開発
• 解析・評価技術編 原子分解能分析電子顕微鏡「JEM-ARM200F」 (特集 エレクトロニクス分野の検査・計測・解析技術の最新動向)
• 収差補正走査透過電子顕微鏡を用いた環状明視野法による軽元素位置の直接観察

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