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日本電子株式会社電子光学機器本部 | 論文
- 24p-Q-10 市販TEMを用いた光電子顕微鏡視察
- トモグラフィーならわかる試料内部の立体構造 (日本顕微鏡学会第48回シンポジウム 材料科学と生命科学のクロストーク--顕微解析の最前線) -- (非生物系セッション1 電子顕微鏡トモグラフィによる三次元構造再構成--トモグラフィで何が見えるのか)
- 14a-T-3 Hollow cone beam によるCBED図形の解釈
- 23aW-2 金原子鎖の電子顕微鏡像シミュレーションによる検討
- 時間分解型高分解能観察 -V.孤立原子クラスターの変形-
- 25p-K-5 高分解能透過電子顕微鏡によるSi/Si常温接合過程のその場観察
- 25p-K-4 孤立原子クラスターの変形の原子直視観察
- 5p-X-3 カーボンナノチューブの筒状構造の3次元的直接観察
- 5p-X-1 カーボンナノチューブの電子顕微鏡内変形の高分解能その場観察
- 収差補正走査透過電子顕微鏡を用いた環状明視野法による軽元素位置の直接観察
- 収差補正走査透過電子顕微鏡を用いた環状明視野法による軽元素位置の直接観察
- 高エネルギー分解能AESによるSn, SnO, SnO_2の化学状態定量分析