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富士電機製造(株) | 論文
- 資料室のPRの仕方(かた・シリーズ(17))
- 資料室の刊行物の作り方(かた・シリーズ(8))
- 3 表面欠陥と磁粉及び浸透探傷試験(III 非破壊試験の溶接検査への適用)(溶接検査)
- 溶接部の磁粉探傷試験および浸透探傷試験(溶接部の非破壊試験)(非破壊特集)
- 第 V 委員会出席報告 : Testing Measurment and Control of Welds (1970 年 IIW 年次大会(ローザンヌ)出席報告)
- 原子力産業における品質保証システムに対する一考察