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大同大工 | 論文
- 23aHW-6 ミュオニウムスピン交換法による半導体(Si,GaAs)中の伝導電子スピン偏極測定(23aHW 半導体スピン物性,領域4(半導体,メゾスコピック系・局在))
- 20aFF-8 Si(001)表面に対するRHEED励起オージェ強度とロッキング曲線(20aFF 領域9,領域10 合同招待講演,領域9(表面・界面,結晶成長)
- 8pTD-1 一般化Lotka-Volterra系の第一積分・Lieシンメトリー(古典・量子可積分系,領域11)
- 27aJB-5 高温Si(001)2×1表面の多波RHEED法による構造解析(表面界面構造,領域9(表面・界面,結晶成長))