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アンドールシステムサポート株式会社 | 論文
- ディジタル回路実験のためのWBTシステム(教育)
- FAシステム・電子機器の故障診断エキスパ-トシステムの現状 (ソフトウエア技術によるトラブル対策--計測・制御システムの高信頼化をめざして)
- 特別研究 JTAG(バウンダリースキャンテスト)の考え方・使い方
- 応用範囲の広いボ-ドテスト規格JTAGのすべて(第6回・最終国)JTAGテストの導入と実践上のノウハウ
- 応用範囲の広いボ-ドテスト規格JTAGのすべて(第3回) 本格的JTAGボ-ドテストの実際
- システム性能をどう計測するか?--ロジアナベ-スの最新鋭の計測器も登場!! (具体化するバックプレ-ン用標準バス(?)--Futurebus+時代到来か!?)
- μEMU-87AD (マイコン・システム開発の効率化--開発支援システムの機能とアプリケ-ション) -- (機器解説とアプリケ-ション)
- インタ-フェイス技術を効果的にマスタ-するためのマイコン応用学習ボ-ド/セット (′83年版マイクロコンピュ-タ応用設計ガイド) -- (ハ-ド技法)
- 周辺LSIの動向 (′80年版マイクロコンピュ-タ導入設計ガイド) -- (実践的なポイントアドバイス)
- マイコン応用システム開発へのイントロダクション--コストパフォ-マンスの考え方と評価 (79年版マイクロコンピュ-タ応用システム設計ガイド)
- 応用製品開発支援システム (計測・制御とマイクロコンピュ-タ)