Miillerova Ilona | Institute of Scientific Instruments ASCR
スポンサーリンク
概要
Institute of Scientific Instruments ASCR | 論文
- Noise in secondary electron emission : the low yield case
- The Development of the scanning low energy electron microscopy (SLEEM) for the conventional SEM : 2. Application for Practical samples(研究課題:ナノスケール組織を有する軽量材料の開発とその構造解析に関する研究)