Jung Jong-Wan | Hyundai Electronics Industries Co., Ltd., 1, Hyangjeong-dong, Hungduk-gu, Cheongju, 361-480, Korea

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Hyundai Electronics Industries Co., Ltd., 1, Hyangjeong-dong, Hungduk-gu, Cheongju, 361-480, Korea | 論文

• Dependence of Subthreshold Hump and Reverse Narrow Channel Effect on the Gate Length by Suppression of Transient Enhanced Diffusion at Trench Isolation Edge

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