PARK Jaeyoung | Digital Communications Lab., Computer and Telecommunications Engineering Division, Yonsei University
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概要
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論文 | ランダム
- C-5-7 銀系接点低速開離時に発生するブリッジやアーク継続時間への磁界印加の影響の一検討(C-5.機構デバイス,一般講演)
- PCBをノイズ源とした筐体まどからの電磁放射の検討(その3)(EMC 一般)
- B-4-48 PCBをノイズ源とした筐体まどからの電磁放射の検討(その2)(B-4.環境電磁工学,一般講演)
- CS-5-3 銀接点低速開離時に発生する短時間アークの持続電圧と継続時間の関係(CS-5.車載用機構デバイスの信頼性技術とその課題,シンポジウム)
- 磁気インピーダンス素子を用いたキャリア型磁界プローブの性能向上に関する検討(卒論・修論特集)