本田 道隆 | 香川高等専門学校 電気情報工学科
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概要
関連著者
著作論文
- 散乱線の発生と画像への影響
- 瞬時認識能の測定による透視画像の主観評価法に関する検討
- (1)委員紹介(新委員紹介)
- (2)システム上の画像評価(画像について語ろう『臨床画像評価のピットフォール(落とし穴)』,第74回画像分科会)
- 透視画像の処理と評価に関する文献(資料・文献紹介)
- (1)国立香川高等専門学校 本田研究室の紹介(大学/研究室/研究会紹介)
- (2)透視画像の識別能向上処理(画像について語ろう『De-noising -放射線領域の画像ノイズとうまくつきあうには-』,第71回画像分科会)