上垣 義明 | (株)大林組本店紀ノ川工事事務所
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概要
論文 | ランダム
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- Effects of Surface Roughness and Copper Contamination on the Oxide Breakdown of Silicon Wafer(Semiconductors)
- Observation of Micro-Oxygen Precipitates in the Vicinity of the Oxidation-Induced Stacking Fault Ring and Their Effects on Thin Gate Oxide Breakdown : Semiconductors