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太田 裕之 | 産業技術総合研究所グリーン・ナノエレクトロニクスセンター
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産業技術総合研究所グリーン・ナノエレクトロニクスセンター | 論文
C-12-37 トンネルFETを用いたSRAMにおけるマージン改善手法の提案(メモリ及びデバイス・回路強調設計技術,C-12.集積回路,一般セッション)
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