UHM Oui | R&D Center, DACOM Corporation
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概要
論文 | ランダム
- ディジタルX線トポグラフィによるシリコンの微小ひずみ解析システムの開発
- 5p-TA-3 多層膜を利用した核共鳴散乱のシミュレーション
- 有機化合物の構造解析における情報処理法
- 化合物構造検索の新しいアプロ-チ (デ-タベ-ス--化学分野への貢献)
- 2度の巨額買収を成功に導き 海外販売比率を約10年で10倍に押し上げる--新貝康司氏 JT International 副CEO (オープンイノベーションを実現した異能人材レポート(VOL.01))