Watanabe Naoya | SII NanoTechnology Inc., RBM Bldg., 2-15-5 Shintomi, Chuo-ku, Tokyo 104-0041, Japan

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SII NanoTechnology Inc., RBM Bldg., 2-15-5 Shintomi, Chuo-ku, Tokyo 104-0041, Japan | 論文

• Identification of Size Differences of Gold Nanoparticles on Cell Surface by Curvature Reconstruction Method Using Atomic Force Microscopy

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