LEE Dongwoo | R&D Center, Samsung Electro-Mechanics CO., LTD.
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概要
論文 | ランダム
- 2407 UO_2 混合物を用いた圧力容器外デブリ冷却試験
- 2404 UO_2 混合物を用いた圧力容器外条件での FCI 試験
- イメージセンサの技術動向 : 2007 International Image Sensor Workshop (IISW)報告を中心に(イメージセンサ技術の最新動向)
- Accelerated Rampによる12bitカラムADCの高速化(アナログ・デジアナ・センサ, 通信用LSI)
- X線ビームスキャン法による過度時管内ボイド率分布の測定