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Tokuyasu Ken | National Food Research Institute, 2-1-12, Kannondai
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論文 | ランダム
臭素吸着 Si(111)表面の原子層エッチングと電子刺激脱離
複合型走査反射電子顕微鏡によるGeナノ構造形成
SREM/STMによるSi/Geナノ構造の形成と安定性の評価
Si表面の原子層酸化のナノメータースケール観察
原子層のSi酸化膜を用いたナノ構造形成
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