Yamamura Masahiro | Semiconductor &amp Integrated Circuits Div., Hitachi Ltd.

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論文 | ランダム

• 28p-ZG-12 半導体AFM探針を用いたエバネッセント光による力の検出
• 30a-PB-18 Si(111)7×7再構成表面における非接触AFM測定での深針-試料間相互作用の研究
• 30a-PB-17 非接触モードAFMによるSi(100)2×1再構成表面の原子分解能観察
• 27a-Z-10 非接触モード原子間力顕微鏡によるエバネッセント場の検出
• 28p-S-2 非接触モードAFMによるSi(111)7x7再構成表面の原子分解能観察

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