KIHARA J | Dept. Obst. & Gynec., Kanazawa Univ. Sch. Med.
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概要
論文 | ランダム
- IDDQを用いたLSIの劣化兆候の検出 (機構デバイス)
- IDDQを用いたLSIの劣化兆候の検出 (信頼性)
- フーリエ変換を用いた斑柄にステップ送りのあるデザインへの展開方法
- CMOSデジタルLSIにおける電源雑音の周波数成分評価(電源雑音・伝送線路,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-)
- CMOSデジタルLSIにおける電源雑音の周波数成分評価(電源雑音・伝送線路,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地)