Tai Y.H. | Department of Electronics Engineering and National Nano Device Laboratory, National Chiao Tung University
スポンサーリンク
概要
- Tai Y.H.の詳細を見る
- 同名の論文著者
- Department of Electronics Engineering and National Nano Device Laboratory, National Chiao Tung Universityの論文著者
論文 | ランダム
- 20pYD-14 Si(100) 面における 2 次元島崩壊中の表面拡散
- 表面におけるRHEED電子密度
- 31aWD-6 回折条件による RHEED 波動関数の表面局在の変化
- 28aZF-5 Si(100) 面上の温度勾配によるナノ構造形成 II
- Si(100)面上に形成された2次元島の崩壊における原子拡散