Kim Kyung-Ho | Storage Division, Semiconductor Business, Samsung Electronics Company
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論文 | ランダム
- 多連切欠き材の疲れ挙動について-2-切欠きの干渉が平面曲げ疲れ特性に及ぼす影響について
- 多連切欠き材の疲れ挙動について-1-切欠きの干渉が,回転曲げ疲れ特性に及ぼす影響について
- 3種の時効硬化Al合金におけるき裂伝ぱ特性の比較
- S45C焼きなまし材の回転曲げと平面曲げにおける疲労過程の比較
- 133 多連切欠き材の疲れ挙動について : 第二報切欠きの干渉に及ぼす切欠き半径の影響