Cheng Tsai-Ying | Department of Chemistry, Oregon Graduate Center
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概要
論文 | ランダム
- 半導体検出器による電子線およびX線の検出 : X線マイクロアナリシス シンポジウム
- 磁界型レンズによる電子のエネルギー分析 : X線マイクロアナリシス シンポジウム
- 4p-E-2 強磁性薄膜の磁区構造の電子顯微鏡的觀察
- 7a-K-6 X線マイクロアナライザによる固体内拡散の研究
- 6a-M-9 電子顯微鏡による強磁性薄膜の磁区模様の観察