FARR David | Systematic Botany and Mycology Laboratory, U. S. Department of Agriculture, Agricultural Research Service
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概要
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論文 | ランダム
- コントラスト検出による表面形状計測
- 格子パターン投影方式三次元形状計測システム(第2報) -投影パターンの光強度分布に関する考察-
- 格子パターン投影方式三次元形状計測システム(第1報)-表面情報の捉え方-
- アブラムソン干渉計を用いた反射物体の表面形状計測(第2報) -多重干渉による影響の低減-
- アブラムソン干渉計を用いた反射物体の表面形状計測(第1報) -多重干渉による影響の考察-