Kim Hyun-Jin | LCD R&D Center, BOE-HYDIS, Ichon, Kyoungki-do 467-701, Korea

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LCD R&D Center, BOE-HYDIS, Ichon, Kyoungki-do 467-701, Korea | 論文

• Relationship between Leakage Current and the Type of Passivation Layer of Hydrogenated Amorphous Silicon Thin-Film Transistors

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