澤田 和明 | 豊橋技術科学大学電気・電子情報工学系:JST-CREST
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概要
豊橋技術科学大学電気・電子情報工学系:JST-CREST | 論文
- MEMSファブリペロー干渉計を用いた表面応力センサによる非標識たんぱく質検出(センサ,結晶成長,評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
- MEMSファブリペロー干渉計を用いた表面応力センサによる非標識たんぱく質検出(センサ,結晶成長,評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
- MEMSファブリペロー干渉計を用いた表面応力センサによる非標識たんぱく質検出(センサ,結晶成長,評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
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