Sukegawa Kazuo | ULSI R&ampD Division, FUJITSU LIMITED

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概要

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• 同名の論文著者
• ULSI R&ampD Division, FUJITSU LIMITEDの論文著者

ULSI R&ampD Division, FUJITSU LIMITED | 論文

• Degradation Mechanisms of Thin Film SIMOX SOI-MOSFET Characteristics : Optical and Electrical Evaluation (Special Issue on Quarter Micron Si Device and Process Technologies)

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