Wu Shien-Yang | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., R&D, Hsin-Chu, Taiwan, ROC

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概要

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• Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., R&D, Hsin-Chu, Taiwan, ROCの論文著者

Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., R&D, Hsin-Chu, Taiwan, ROC | 論文

• Characteristics of Oxide Breakdown and Related Impact on Device of Ultrathin (2.2 nm) Silicon Dioxide

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