HAW James | Department of Chemistry, Texas A&M University, College Station
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概要
論文 | ランダム
- 医用画像
- 医学診断用X線スペクトル測定とX線画像の画質評価
- 高分解能Schottky型CdTe半導体検出器を用いた診断用X線装置の一般撮影条件下のスペクトル測定(第32回秋季学術大会放射線防護管理関連演題発表後抄録, 第61回総会学術大会放射線防護分科会)
- ディジタル画像検出システムの画像特性の測定法 : IEC 62220-1 recommendationを中心にして(ディジタル画像検出システムの画像特性に関する研究班)(第56回画像分科会)
- 86 高性能Schottky型CdTe半導体検出器を用いた診断用X線装置の一般撮影条件下のスペクトル測定(放射線管理 計測-2)(一般研究発表)(第32回秋季学術大会)