SANO Kenya | Advanced LSI Technology Laboratory, R&D Center, TOSHIBA Corporation

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概要

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論文 | ランダム

• An objective evaluation of segregated speech signal by means of frequency domain binaural model
• 雑音下音声認識の性能推定のためのひずみ尺度の検討(雑音・VAD,第9回音声言語シンポジウム)
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• A Statistical Approach to Error Compensation in Spectral Quantization(Speech and Hearing)

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