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Lee Kuo-Hua | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., R&D, Hsin-Chu, Taiwan, ROC
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Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., R&D, Hsin-Chu, Taiwan, ROCの論文著者
Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., R&D, Hsin-Chu, Taiwan, ROC | 論文
Characteristics of Oxide Breakdown and Related Impact on Device of Ultrathin (2.2 nm) Silicon Dioxide
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